Imágenes de los procesos optoelectrónicos en las estructuras a nanoescala
Está creciendo el interés en los procesos físicos subyacentes en los dispositivos optoelectrónicos basados en los compuestos de materiales electrónicos orgánicos e inorgánicos, incluidos los de bajo costo en gran escala del estado sólido de células solares y los dispositivos emisores de luz, fotodetectores, y memorias ópticas.
Estos dispositivos suelen ser de película multicapa, infraestructuras en las que participan poliméricos nanoestructurados y/o capas cristalinas orgánicas e inorgánicas apoyado en la conducción transparente de óxido de indio, estaño y electrodos de vidrio. El comportamiento electróptico único de estos dispositivos y procesos físicos esenciales tales como inyección/separación de la carga en los interfaces, las movilidades de la carga y del excitón, los procesos del decaimiento del excitón, y las interacciones del excitón/onda portadora, a menudo es controlado íntimamente por las morfologías nanoestructuradas detalladas del sistema.
Hay una necesidad de las herramientas experimentales que permiten la proyección de imagen (resolución espacial) de las características físicas y los procesos asociados a estructuras de escala nanométrica. Idealmente, la proyección de imagen simultánea de la morfología de la capa y los procesos físicos permitirían en última instancia una correlación directa de la física de la morfología y del dispositivo, en un dispositivo funcional, un prototipo del dispositivo, o una nanoestructura aislada.
Se espera que las estructuras de la escala del nanómetro afecten áreas amplias de la tecnología de la electrónica y de la óptica. La realización de los usos tecnológicos requiere una mayor comprensión de cómo se sintetizan y se fabrican las nanoestructuras y requiere una mayor comprensión de lo intrínseco y de las características físicas potencialmente únicas de nanoestructuras.
En nuestro trabajo, dos nuevos métodos complementarios se llevan a cabo, en el campo eléctrico modulado que explora la microscopía óptica (NSOM) y la microscopía foto-modulada electrostática, potencial que explora (SEPM) es usado espacialmente y temporalmente resuelve propiedades optoelectrónicas y procesos en nanoestructuras solo en películas delgadas. También estamos desarrollando nuevos métodos de la microscopia fototérmica del campo cercano de FTIR (PTM) para la proyección de imagen espectroscópica infrarroja de los materiales de la película fina en el nivel del nanómetro.
Título: Imaging of Optoelectronic Processes in Nanoscale Structures
Enlace del artículo completo en inglés: http://www.columbia.edu/cu/chemistry/groups/adams/research/imaging/imaging.htm
Fuente original (en inglés): columbia.edu
Crédito de las imagenes cortesía de: columbia.edu
Traducido por: electronica2000.com (disculpas por errores que puedan haber en la traducción)
NOTA: Los circuitos aquí publicados, en su mayoría no han sido probados, el buen funcionamiento o no de los mismos, es responsabilidad del ensamblador.
Estos dispositivos suelen ser de película multicapa, infraestructuras en las que participan poliméricos nanoestructurados y/o capas cristalinas orgánicas e inorgánicas apoyado en la conducción transparente de óxido de indio, estaño y electrodos de vidrio. El comportamiento electróptico único de estos dispositivos y procesos físicos esenciales tales como inyección/separación de la carga en los interfaces, las movilidades de la carga y del excitón, los procesos del decaimiento del excitón, y las interacciones del excitón/onda portadora, a menudo es controlado íntimamente por las morfologías nanoestructuradas detalladas del sistema.
Hay una necesidad de las herramientas experimentales que permiten la proyección de imagen (resolución espacial) de las características físicas y los procesos asociados a estructuras de escala nanométrica. Idealmente, la proyección de imagen simultánea de la morfología de la capa y los procesos físicos permitirían en última instancia una correlación directa de la física de la morfología y del dispositivo, en un dispositivo funcional, un prototipo del dispositivo, o una nanoestructura aislada.
En nuestro trabajo, dos nuevos métodos complementarios se llevan a cabo, en el campo eléctrico modulado que explora la microscopía óptica (NSOM) y la microscopía foto-modulada electrostática, potencial que explora (SEPM) es usado espacialmente y temporalmente resuelve propiedades optoelectrónicas y procesos en nanoestructuras solo en películas delgadas. También estamos desarrollando nuevos métodos de la microscopia fototérmica del campo cercano de FTIR (PTM) para la proyección de imagen espectroscópica infrarroja de los materiales de la película fina en el nivel del nanómetro.
